日本 FLOVEL  雙面檢測(cè)顯微鏡系統(tǒng)

日本 FLOVEL  雙面檢測(cè)顯微鏡系統(tǒng)

日本 FLOVEL TOMOS-50R1 是專(zhuān)為電子元器件、光學(xué)器件打造的廣視野雙面檢測(cè)顯微鏡系統(tǒng)。產(chǎn)品采用低倍顯微鏡與環(huán)形照明結(jié)合的設(shè)計(jì)，在 1 倍視野下可實(shí)現(xiàn)約 9mm×7mm 的大視野雙面同步拍攝，一次操作完成工件正反兩面的全貌檢測(cè)，大幅提升檢測(cè)效率，適合批量電子元器件的外觀與位置檢測(cè)。

系統(tǒng)搭載雙 200 萬(wàn)像素相機(jī)（彩色 / 黑白可選），支持環(huán)形照明與同軸照明同時(shí)安裝，可適配 10 倍、20 倍等多倍率物鏡，滿足不同檢測(cè)場(chǎng)景的成像需求；內(nèi)置光軸補(bǔ)償、倍率補(bǔ)償、相機(jī)角度補(bǔ)償?shù)裙δ埽珳?zhǔn)校正雙面檢測(cè)誤差，保障測(cè)量結(jié)果的可靠性。XY 軸 ±10mm 行程、最大 30mm 調(diào)焦范圍，適配不同尺寸工件的檢測(cè)需求。

設(shè)備功能豐富，可完成電子元器件表面瑕疵檢查、印刷物 / PCB 對(duì)齊標(biāo)記偏移測(cè)量、LED 芯片 / 透鏡位置偏移檢測(cè)等，支持雙面圖像合成顯示，直觀呈現(xiàn)正反面對(duì)位情況；同時(shí)提供軟件、樣品夾定制服務(wù)，可根據(jù)工件形狀、材料定制專(zhuān)屬檢測(cè)方案，適配特殊工件的檢測(cè)需求。