產品資料
日本 NPS IC 檢測用 GGB Pico 探針系統
產品名稱: 日本 NPS IC 檢測用 GGB Pico 探針系統
產品型號: GGB Pico 系列探針
產品特點: 日本 NPS IC 檢測用 GGB Pico 探針系統采用低阻抗微探針設計，可精確測量 IC 內部電壓，減少測量設備負載，是集成電路設計領域的標準分析測量工具。
日本 NPS IC 檢測用 GGB Pico 探針系統 的詳細介紹
日本 NPS IC 檢測用 GGB Pico 探針系統日本 NPS IC 檢測用 GGB Pico 探針系統，是專為半導體、液晶及集成電路設計開發的高精度 IC 檢測微探針系統，采用美國 GGB 公司的 Pico 探針技術，可精確測量 IC 內部電壓，是集成電路設計領域分析測量的全球標準儀器。
系統搭載 Model 7、Model 12C、Model 34A、Model 35 等多種型號探針，其中 Model 35 是蕞快的 FET 探針代表，專為高頻、高速 IC 電壓測量設計。探針采用低阻抗、低雜散電容設計，可將探針本身的雜散電容值保持在最大限度，使阻抗接近無限值，最大限度減少對測量設備的負載影響，實現忠實、準確的測量。探針配合 NPS GT-1100 微波測試臺和 800M 微定位器使用，可對晶圓上的微小 IC 引腳進行精準定位與接觸，配合示波器、信號源等設備，完成 IC 內部電壓波形、時序特性等參數的測試分析。
設備支持與適配器等通信，可與各制造商的探測器兼容使用，廣泛應用于半導體研發、芯片設計驗證、失效分析等場景，為集成電路的性能優化與質量控制提供可靠數據支撐。作為集成電路設計領域的標準分析工具，GGB Pico 探針系統憑借高精度、低干擾的特點，成為 IC 檢測領域的核心設備。
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