桌上型實(shí)驗(yàn)用無(wú)風(fēng)循環(huán)裝置恒溫槽

桌上型實(shí)驗(yàn)用無(wú)風(fēng)循環(huán)裝置恒溫槽

隨著自動(dòng)駕駛的普及，高發(fā)熱部件和高密度安裝基板的散熱對(duì)策成為了難題。此外，在光通信用器件和高頻器件中，由于電氣性質(zhì)依賴(lài)于溫度，因此在開(kāi)發(fā)階段對(duì)“熱設(shè)計(jì)"和“熱管理（熱管理）"的評(píng)價(jià)十分重視。

單設(shè)備腔室是一款溫度范圍為－30℃至＋130℃的桌上型無(wú)風(fēng)恒溫槽。頂部配有大型觀測(cè)窗，便于在溫度環(huán)境下進(jìn)行觀察。此外，試樣與測(cè)量設(shè)備的配線處理簡(jiǎn)單，可在AC100V下使用，可在實(shí)驗(yàn)室和實(shí)驗(yàn)室的辦公桌上進(jìn)行設(shè)計(jì)業(yè)務(wù)的同時(shí)，輕松地實(shí)施溫度環(huán)境下的熱變形觀察和電氣測(cè)量。
通過(guò)三維數(shù)字圖像相關(guān)法（3DDIC）和熱電圖儀的組合，還可以在溫度環(huán)境下進(jìn)行熱變形測(cè)量。隨著自動(dòng)駕駛的普及，高發(fā)熱部件和高密度安裝基板的散熱對(duì)策成為了難題。此外，在光通信用器件和高頻器件中，由于電氣性質(zhì)依賴(lài)于溫度，因此在開(kāi)發(fā)階段對(duì)“熱設(shè)計(jì)"和“熱管理（熱管理）"的評(píng)價(jià)十分重視。

單設(shè)備腔室是一款溫度范圍為－30℃至＋130℃的桌上型無(wú)風(fēng)恒溫槽。頂部配有大型觀測(cè)窗，便于在溫度環(huán)境下進(jìn)行觀察。此外，試樣與測(cè)量設(shè)備的配線處理簡(jiǎn)單，可在AC100V下使用，可在實(shí)驗(yàn)室和實(shí)驗(yàn)室的辦公桌上進(jìn)行設(shè)計(jì)業(yè)務(wù)的同時(shí)，輕松地實(shí)施溫度環(huán)境下的熱變形觀察和電氣測(cè)量。
通過(guò)三維數(shù)字圖像相關(guān)法（3DDIC）和熱電圖儀的組合，還可以在溫度環(huán)境下進(jìn)行熱變形測(cè)量。

在無(wú)風(fēng)狀態(tài)下實(shí)現(xiàn)槽內(nèi)均一化并提高試驗(yàn)效率

采用電子式加熱冷卻機(jī)構(gòu)和本公壁面?zhèn)鳠岱绞剑ㄕ谏?，?shí)現(xiàn)了無(wú)風(fēng)狀態(tài)下的槽內(nèi)均勻化。可用于半導(dǎo)體封裝內(nèi)的IC芯片等，在散熱性評(píng)價(jià)時(shí)受風(fēng)影響的試料。此外，通過(guò)快速的溫度變化可以提高測(cè)試的效率

在無(wú)風(fēng)狀態(tài)下實(shí)現(xiàn)槽內(nèi)均一化并提高試驗(yàn)效率

采用電子式加熱冷卻機(jī)構(gòu)和本公壁面?zhèn)鳠岱绞剑ㄕ谏暾?qǐng)），實(shí)現(xiàn)了無(wú)風(fēng)狀態(tài)下的槽內(nèi)均勻化?？捎糜诎雽?dǎo)體封裝內(nèi)的IC芯片等，在散熱性評(píng)價(jià)時(shí)受風(fēng)影響的試料。此外，通過(guò)快速的溫度變化可以提高測(cè)試的效率

在無(wú)風(fēng)狀態(tài)下實(shí)現(xiàn)槽內(nèi)均一化并提高試驗(yàn)效率

采用電子式加熱冷卻機(jī)構(gòu)和本公，實(shí)現(xiàn)了無(wú)風(fēng)狀態(tài)下的槽內(nèi)均勻化?？捎糜诎雽?dǎo)體封裝內(nèi)的IC芯片等，在散熱性評(píng)價(jià)時(shí)受風(fēng)影響的試料。此外，通過(guò)快速的溫度變化可以提高測(cè)試的效率

在無(wú)風(fēng)狀態(tài)下實(shí)現(xiàn)槽內(nèi)均一化并提高試驗(yàn)效率

采用電子式加熱冷卻機(jī)構(gòu)和本公司的壁面?zhèn)鳠岱绞剑ㄕ谏暾?qǐng)），實(shí)現(xiàn)了無(wú)風(fēng)狀態(tài)下的槽內(nèi)均勻化?？捎糜诎雽?dǎo)體封裝內(nèi)的IC芯片等，在散熱性評(píng)價(jià)時(shí)受風(fēng)影響的試料。此外，通過(guò)快速的溫度變化可以提高測(cè)試的效率