產品資料
精密加工晶圓檢測納米表面粗糙度檢測儀
產品名稱: 精密加工晶圓檢測納米表面粗糙度檢測儀
產品型號: TN-A1
產品特點: 精密加工晶圓檢測納米表面粗糙度檢測儀納米七的光學結構以光異質干擾為測量原理，分析并測量從兩束之間的相位差獲得的電信號。安裝時無需使用防振臺或真空設備，可實現高分辨率0.1nm以下。幾
精密加工晶圓檢測納米表面粗糙度檢測儀 的詳細介紹
精密加工晶圓檢測納米表面粗糙度檢測儀
精密加工晶圓檢測納米表面粗糙度檢測儀
納米七的光學結構以光異質干擾為測量原理，分析并測量從兩束之間的相位差獲得的電信號。安裝時無需使用防振臺或真空設備，可實現高分辨率0.1nm以下。幾乎沒有消耗品，運營成本也很低。納米七的光學結構以光異質干擾為測量原理，分析并測量從兩束之間的相位差獲得的電信號。安裝時無需使用防振臺或真空設備，可實現高分辨率0.1nm以下。幾乎沒有消耗品，運營成本也很低。納米七的光學結構以光異質干擾為測量原理，分析并測量從兩束之間的相位差獲得的電信號。安裝時無需使用防振臺或真空設備，可實現高分辨率0.1nm以下。幾乎沒有消耗品，運營成本也很低。納米七的光學結構以光異質干擾為測量原理，分析并測量從兩束之間的相位差獲得的電信號。安裝時無需使用防振臺或真空設備，可實現高分辨率0.1nm
縮短測量時間——Ra數秒測量，提高成品率
低價格設定：維護保養也很容易，幾乎不需要消耗品。
無需防振臺，無需選擇安裝地點
非接觸測量——利用激光進行非接觸測量
広範囲計測??型試料でも多點?動計測可能
簡單操作?測量?保存結果?レポート出?まで全?動
高分辨率：采用光外差干涉法實現的0.1nm分辨率
以下。幾乎沒有消耗品，運營成本也很低。
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