連續(xù)厚度測量監(jiān)控機高分辨率薄膜測試儀
產(chǎn)品名稱: 連續(xù)厚度測量監(jiān)控機高分辨率薄膜測試儀
產(chǎn)品型號: FT-A200H/FT-A200HR
產(chǎn)品特點: 連續(xù)厚度測量監(jiān)控機高分辨率薄膜測試儀具有高精度測量頭和放大器單元的機器,只需放置從生產(chǎn)線上切下的薄膜,即可輕松連續(xù)地測量厚度。提供0.01μm的高分辨率,確保能夠捕捉到薄膜厚度的微小變化。重復性為0.05μm,保證了測量的一致性。
連續(xù)厚度測量監(jiān)控機高分辨率薄膜測試儀 的詳細介紹
連續(xù)厚度測量監(jiān)控機高分辨率薄膜測試儀
連續(xù)厚度測量監(jiān)控機高分辨率薄膜測試儀
具有高精度測量頭和放大器單元的機器,只需放置從生產(chǎn)線上切下的薄膜,即可輕松連續(xù)地測量厚度。
提供0.01μm的高分辨率,確保能夠捕捉到薄膜厚度的微小變化。
重復性為0.05μm,保證了測量的一致性。
測量范圍:FT-A200H的測量范圍為10μm至200μm,F(xiàn)T-A200HR的測量范圍為3μm至100μm。
測量分辨率為0.01μm,滿足高精度需求。
支持從生產(chǎn)線上直接切取薄膜進行連續(xù)厚度測量,無需中斷生產(chǎn)流程,實現(xiàn)實時監(jiān)控厚度變化。
具有高精度測量頭和放大器單元的機器,只需放置從生產(chǎn)線上切下的薄膜,即可輕松連續(xù)地測量厚度。
提供0.01μm的高分辨率,確保能夠捕捉到薄膜厚度的微小變化。
重復性為0.05μm,保證了測量的一致性。
測量范圍:FT-A200H的測量范圍為10μm至200μm,F(xiàn)T-A200HR的測量范圍為3μm至100μm。
測量分辨率為0.01μm,滿足高精度需求。
支持從生產(chǎn)線上直接切取薄膜進行連續(xù)厚度測量,無需中斷生產(chǎn)流程,實現(xiàn)實時監(jiān)控厚度變化。
具有高精度測量頭和放大器單元的機器,只需放置從生產(chǎn)線上切下的薄膜,即可輕松連續(xù)地測量厚度。
提供0.01μm的高分辨率,確保能夠捕捉到薄膜厚度的微小變化。
重復性為0.05μm,保證了測量的一致性。
測量范圍:FT-A200H的測量范圍為10μm至200μm,F(xiàn)T-A200HR的測量范圍為3μm至100μm。
測量分辨率為0.01μm,滿足高精度需求。
支持從生產(chǎn)線上直接切取薄膜進行連續(xù)厚度測量,無需中斷生產(chǎn)流程,實現(xiàn)實時監(jiān)控厚度變化。
具有高精度測量頭和放大器單元的機器,只需放置從生產(chǎn)線上切下的薄膜,即可輕松連續(xù)地測量厚度。
提供0.01μm的高分辨率,確保能夠捕捉到薄膜厚度的微小變化。
重復性為0.05μm,保證了測量的一致性。
測量范圍:FT-A200H的測量范圍為10μm至200μm,F(xiàn)T-A200HR的測量范圍為3μm至100μm。
測量分辨率為0.01μm,滿足高精度需求。
支持從生產(chǎn)線上直接切取薄膜進行連續(xù)厚度測量,無需中斷生產(chǎn)流程,實現(xiàn)實時監(jiān)控厚度變化。