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日本Kurabo Industries 的薄膜厚度檢測儀介紹
日本Kurabo Industries 的薄膜厚度檢測儀介紹
紅外光譜廣泛用于化學(xué)成分的定性/定量分析。
Kurabo Industries 的薄膜厚度計是一種帶有所謂“化學(xué)眼"的測量儀器，它針對您想要使用這種紅外技術(shù)測量的層和組件。
塑料薄膜生產(chǎn)線介紹實例
我們提供使用 T 型模具進行厚度控制所需的
高精度厚度信息。
不僅可以測量鋰離子電池的隔膜基膜，還可以分別測量各層的各種耐熱涂層的厚度。
測量應(yīng)用
LIB隔膜基膜基重
LIB 隔離層厚度
以上同時測量
濕法/干法過程中各種微量成分的測量
RX-4100
| 測量規(guī)格 | |
|---|---|
| 光度法 | 紅外線吸收法 |
| 光譜法 | 旋轉(zhuǎn)過濾方式（可安裝6張） |
| 測量距離 | 20mm（兩個傳感器頭之間：40mm） |
| 測量區(qū)域 | 20 x 30 mm（橢圓形）RX-4000：2 個點，RX-4100：1 個點 |
| 機身規(guī)格 | |
| 傳感頭 |
|
| RX-4100 重量：泛光燈傳感器10.4kg，光接收傳感器8.6kg | |
| 繼電器單元 | 外形尺寸：322（W）x 140（D）x 113（H）（不包括突出部分） |
| 重量：4公斤 | |
| 電源：AC100V±10% 50 / 60Hz 200VA | |
| 外部輸出 | RS422A (9600BPS) 數(shù)字輸出至上位機 |
| 工作溫度 | 5-40°C（無冷凝，35°C以上環(huán)境需要空氣吹掃） |
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